結晶評価技術ハンドブック (普及版)

小川 智哉高須 新一郎坂部 知平(編)

小川 智哉高須 新一郎坂部 知平(編)

定価 49,500 円(本体 45,000 円+税)

A5判/1112ページ
刊行日:2008年06月15日
ISBN:978-4-254-21034-7 C3050

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内容紹介

結晶の育成・評価・加工は今日のハイテクノロジーを支える大切な基礎である。本書は,この基幹技術の一つである結晶の評価について原理から最先端的手法までを詳述したもの。技術者・研究者の座右書。〔内容〕結晶学序論/準結晶/X線による評価/電子線による評価/結晶表面の評価/エッチングによる評価/光による評価/中性子線による評価/イオンビーム分析法/電気的・磁気的測定による評価/熱測定による評価/力学的性質の評価/格子欠陥/観察の問題点とその解決。初版1993年6月25日刊。

編集部から

目次

結晶の評価
8. 中性子線による評価
 8.1 概 要
 8.2 中性子源
 8.3 測定装置と実験法
 8.4 測定結果の解析
9. イオンビーム分析法
 9.1 イオンビーム分析法の特徴と分類
 9.2 ラザフォード後方散乱法
 9.3 その他の高速イオン分析法
10. 電気的・磁気的測定による評価
 10.1 電気伝導―低抵抗体―
 10.2 電気伝導―高抵抗半導体―
 10.3 超伝導特性
 10.4 磁化特性
 10.5 磁気共鳴
11. 熱測定による評価
 11.1 熱量のかかわる物理的現象
 11.2 比 熱
 11.3 熱分析
 11.4 相転移に伴う熱異常
 11.5 熱膨張
 11.6 熱伝導
 11.7 熱電効果
12. 力学的性質の評価
 12.1 弾性と内部摩擦
 12.2 機械的性質
 12.3 金属の性質と評価
13. 格子欠陥
 13.1 格子欠陥とは
 13.2 格子欠陥の評価法
 13.3 格子欠陥の発生過程
14. 観察の問題点とその解決
 14.1 観察・測定にあたっての問題点
 14.2 ランダムに生起する現象と観察領域の選定
 14.3 観察領域と分解能―マクロとミクロ観察の関係
 14.4 マクロ観察法
 14.5 連続観察記録
15. 付表 中性子散乱・吸収定数表
16. 索 引

執筆者紹介

【編集者】小川智哉,坂部知平,高須新一郎
【執筆者】芦田佐吉,雨宮慶幸,荒木宏侑,新井敏弘,一宮彪彦,石黒武彦,石原 宏,飯田厚夫,鵜木博海,上垣外修己,岡田安正,乙木洋平,小川智哉,太田俊明,大串秀世,加藤範夫,鹿島一日児,小岩昌宏,小早川 久,小松 啓,佐々木教祐,柴田 淳,角野浩二,鈴木哲郎,鈴木俊治,千川純一,高須新一郎,高野幸男,高柳邦夫,竹内 伸,田島道夫,永田文男,長村光造,楢岡清威,新村信雄,西川恵子,原田嘉晏,阪東 寛,浜野勝美,東 常行,平林 眞,星埜禎男,堀 俊彦,松井純爾,松島正明,松本マツ生,前園明一,水林 博,山口祐二,山根 隆,横山利彦,吉田育之,米永一郎

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