朝倉書店 Asakura Pulishing Co., Ltd.
お問い合わせカートをみる購入ヘルプ
会社案内利用規約プライバシー規約サイトマップ採用情報リンク常備店一覧
教科書についてのお問合せ
「愛読者の声」ご投稿はこちら
ジャンル検索


SSL GMOグローバルサインのサイトシール

最終更新日:2017.12.13

会社案内

ジャンル化学分析化学

蛍光X線分析の実際

蛍光X線分析の実際

B5/248ページ/2005年10月20日
ISBN978-4-254-14072-9 C3043
定価6,156円(本体5,700円+税)

中井泉 編

カートに入れる

【書店の店頭在庫を確認する】    

紀伊國屋書店 旭屋倶楽部 東京都書店案内

試料調製,標準物質,蛍光X線装置スペクトル,定量分析などの基礎項目から,土壌・プラスチック・食品中の有害元素分析,毒物混入飲料の分析,文化財などへの非破壊分析等の応用事例,さらに放射光利用分析,などについて平易に解説

執筆者一覧

【編集者】中井 泉
【監修者】日本分析化学会X線分析研究懇談会
【執筆者(五十音順)】雨宮將美,井田博之,小笠原典子,河合 潤,閑歳浩平,小西徳三,小林 寛,駒谷慎太郎,桜井健次,下山 進,高橋秀之,谷口一雄,田村浩一,辻 幸一,寺田慎一,寺田靖子,遠山惠夫,中井 泉,永井宏樹,中野和彦,中村利廣,西埜 誠,沼子千弥,早川慎二郎,早川泰弘,藤村聖史,古澤衛一,保倉明子,本間 寿,松下恭子,水平 学,牟田史仁,山田康治郎,山本恭之,横山雄一

目次

1章 蛍光X線分析の基礎
 1.1 X線とは
 1.2 X線と物質の相互作用
 1.3 X線の吸収
 1.4 原子の電子構遥
 1.5 蛍光X線
 1.6 X線の散乱と回折
 1.7 蛍光X線分析装置
 1.8 蛍光X線分析
2章 蛍光X線スぺクトル
 2.1 スペクトル線の呼び方
 2.2 蛍光収率
 2.3 原子番号と波長の関係
 2.4 電子遷移による蛍光X線の発生と選択則
 2.5 サテライトピークの起源
 2.6 スペクトルの意味
 2.7 スペクトルの実際
 2.8 散乱線
 2.9 X線源からの不純線
 2.10 EDXスペクトルにおける特殊問題
 2.11 WDXスペクトルにおける特殊問題
3章 蛍光X線分析装置
 3.1 蛍光X線分析装置のなかはどうなっているか
 3.2 X線発生部
 3.3 分光・検出部
 3.4 信号処理部(計数回路)
4章 よりよいスぺクトルを測定するためのテクニツク
 4.1 よりよいスペクトルを測定するための装置技術
 4.2 同一試料でEDXとWDXスペクトルを比較してみよう
 4.3 2次ターゲットの効果をみてみよう
 4.4 フィルターの効果をみてみよう
 4.5 偏光の効果をみてみよう
 4.6 単色化の効果をみてみよう
 4.7 測走室雰囲気のスペクトルに与える影響
 4.8 スペクトルから定性分析する
5章 試料調製法
 5.1 蛍光X線スペクトルに与える試料調製の影響
 5.2 試料調製法とそのコツ
6章 定量分析
 6.1 検量線法による定量分析
 6.2 FP法による定量分析
 6.3 正しい定量値を得るための工夫
7章 標準物質
 7.1 標準物質に対する国際的な取り組み
 7.2 蛍光X線分析用標準物質
 7.3 環境分析用標準物質
 7.4 プラスチック中金属分析用標準物質
 7.5 標準物質の使い方
8章 全反射蛍光X線分析
 8.1 原理と理論
 8.2 装置
 8.3 試料と定量方法
 8.4 応用例
9章 X線顕微鏡
 9.1 X線の微細化
 9.2 X線顕徴鏡
 9.3 X線顕微鏡を用いた分析例
10章 SEM―EDS
 10.1 SEM―EDSとは
 10.2 装置の仝体構成
 10.3 SEMによる像観察
 10.4 EDSによる分析
 10.5 SEM―EDSとXRFの比較
11章 めっき・薄膜の分析
 11.1 薄膜分析の原理
 11.2 薄膜の定量方法
 11.3 装置の構成
 11.4 測定における注意点
 11.5 測定時間とばらつき
12章 超薄膜の分析
 12.1 原理と基礎理論・反射率測定
 12.2 装置
 12.3 応用事例と測定・解析例
13章 蛍光X線分析の実際:応用事例集
 13.1 環境・食品
 13.2 地球科学・資源・セラミックス
 13.3 機能性材料
14章 放射光利用
15章 特殊応用と新しいアプローチ
16章 分析結果を論文・報告書に書くときの注意事項
 16.1 X線の統計変動(理論変動)
 16.2 再現精度の評価方法・
 16.3 分析値の正確度の評価方法
 16.4 分析結果の表記方法
 16.5 検出下限および定量下限
 16.6 トレーサビリティー
 16.7 検出下限を計算してみよう
 16.8 再現精度を計算してみよう
17章 法令と届出(蛍光X線分析装置の場合)
 17.1 遵守しなければならない法令
 17.2 電離放射線障害防止規則の要点
 17.3 届出
付録A 蛍光X線分析に関するJIS,ISOおよびEMAS規格
付録B 知っていると便利な蛍光X線分析の関連情報
付録C 蛍光X線分析に必要な数学
付録D 吸収端と特性X線のエネルギー表
索 引

  関連本

粉末X線解析の実際